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Materials testing · SINOMA

看见微观，读懂材料。

从形貌、成分到失效定位与定点制样，提供贯穿材料研发与质量验证的检测分析支持。

立即下单 ↗浏览检测能力 ↓
  1. 01方案咨询根据材料、样品状态与研究目标，梳理合适的检测路径。
  2. 02样品制备匹配常规、截面及定点制样方式，为后续表征做好准备。
  3. 03检测分析联动形貌、物相与成分测试，提供清晰的结果与技术支持。

Capability map

选择检测方向

按照分析目标浏览检测服务，为不同材料问题匹配合适的测试路径。

TEM 透射电子显微镜测试利用电子束穿透薄样品，观察材料微观形貌、晶体结构、物相与局部成分。查看检测指南 ↗SEM 扫描电子显微镜测试观察材料表面形貌、断口和微观组织，并可结合 EDS 分析局部元素组成。查看检测指南 ↗EBSD 电子背散射衍射测试通过菊池花样获得晶体结构与取向信息，分析晶粒、织构、相分布和晶界。查看检测指南 ↗FIB 定点制样使用聚焦离子束在指定微区切割、提取和减薄，制备截面或 TEM 薄片。查看检测指南 ↗XRD X射线衍射测试根据衍射峰位置和强度分析材料物相、晶体结构及相关变化。查看检测指南 ↗XPS X射线光电子能谱测试分析材料表层元素组成、化学状态和相对含量，并可按方案进行深度方向研究。查看检测指南 ↗材料失效分析围绕开裂、断裂、分层、腐蚀或性能异常，组合观察与分析方法建立原因证据链。查看检测指南 ↗

形貌与成分

SEM 测试

扫描电子显微镜利用二次电子或背散射电子成像，适合观察样品表面形态、断口形貌和微观组织；结合 EDS 能谱还可同步完成感兴趣区域的元素成分分析。

  • 形貌
  • EDS 能谱
  • ECCI
咨询该检测项目 ↗

Testing workflow

从样品到结果，流程清晰可追踪

  1. 01

    需求沟通

    确认材料体系、分析目标与预期结果。

  2. 02

    方案与报价

    匹配制样方式、仪器与分析路径。

  3. 03

    测试与分析

    按确认方案执行并复核关键数据。

  4. 04

    结果交付

    按约定交付图片、数据及分析结果。

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不确定该选哪种检测方法？

告诉我们样品类型与研究目标，由技术工程师协助梳理检测路径。

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