01 · 可解决的问题
这项检测适合分析什么
- 纳米尺度形貌与缺陷观察
- 晶体结构和物相判断
- 选区电子衍射与局部成分分析
02 · 样品要求
送样前需要准备的信息
- 粉末、薄膜、块体或器件样品
- 样品需满足电子束透射厚度要求
- 具体制样方式需结合目标区域确认
03 · 检测方法
根据研究问题匹配检测路径
根据研究目标选择明场、暗场、高分辨成像、衍射及能谱等方法，并结合合适的机械、离子或 FIB 制样路线。
04 · 交付内容
可约定的交付内容
- 约定倍率和区域的图像
- 衍射或能谱数据（按方案）
- 测试条件与结果说明
05 · FAQ
常见问题
TEM 测试前需要先确认什么？
请先提供材料类型、样品状态、希望解决的问题及已有数据。工程师会据此确认制样方式、测试条件和交付内容。
检测周期和样品数量如何确定？
检测周期和样品数量取决于样品状态、测试范围与数据分析要求，以技术评估和双方确认的方案为准。